Pigura 1. Larawan ng produkto ng serye ng Lanbao PDA mula sa opisyal na pahina ng produkto. Inilalarawan ng larawan ang pamilya ng produkto; kumpirmahin ang kumpletong hulapi ng modelo bago ilapat ang mga detalye. Pinagmulan [2].

Paghiwalayin ang kakayahang maulit mula sa iba pang mga detalye ng pagsukat

Ang repeatability ay tumutukoy sa pagkalat ng magkakasunod na obserbasyon sa ilalim ng mga kondisyong halos hindi nagbabago. Sinusuri ng reproducibility ang mga nagbagong kondisyon, tulad ng ibang operator, ibang instalasyon, o ibang araw. Pinag-iiba ng NIST ang mga konseptong ito at inirerekomenda ang pagsasaad kung paano ipinapahayag ang katumpakan, kabilang ang kaugnay na sukatang pang-estadistika.

Ang resolusyon ay ang pinakamaliit na ipinahiwatig o mapag-iiba na pagtaas. Ang isang display ay maaaring magpakita ng maliliit na pagtaas habang ang mga pinagbabatayang pagbasa ay gumagala nang mas malaki. Ang bias ay isang sistematikong pagkakaiba mula sa isang halaga ng sanggunian. Inilalarawan ng linearity ang paglihis mula sa isang tinukoy na relasyon sa buong saklaw ng pagsukat. Ang isang sensor ay maaaring paulit-ulit na magbalik ng parehong maling halaga, kaya ang mahusay na pag-uulit ay hindi maaaring mag-alis ng error sa pagkakalibrate.

Basahing mabuti ang mga detalye ng porsyento. Para sa isang naglalarawang 30 mm na buong sukat, ang ±0.1% ay katumbas ng ±0.030 mm, o ±30 μm. Ang kalkulasyong iyon ay nagko-convert ng isang detalye batay sa saklaw tungo sa mga kapaki-pakinabang na yunit ng inhinyeriya. Hindi ito nangangahulugan na ang bawat pagsukat ay may eksaktong error na iyon, at hindi nito kino-convert ang linearity tungo sa repeatability.

Itanong kung ano talaga ang kinakatawan ng repeatability number

Maaaring magsaad ng 20 μm at maglarawan ng magkaibang performance ang dalawang sipi. Maaaring mag-ulat ang isang supplier ng tatlong standard deviations; maaaring iulat naman ng isa ang buong naobserbahang peak-to-peak range. Ang mga resulta mula peak-to-peak ay nakadepende rin sa bilang ng sample at mga outlier. Tanungin ang paraan ng pagkalkula, bilang ng mga sample, raw readings kung saan available, at kung ang bilang ay isang limitasyon o isang tipikal na resulta.

Ang nakalaang dokumento ng seryeng PDA-CR50 ng Lanbao ay tumutukoy sa isang 90% reflectivity white card, 23 ±5°C na kondisyon, 24 VDC supply, at 30-minutong warmup. Binanggit din nito ang 2 ms sampling period at 100-sample averaging sa mga test notes nito. [1] Bago ihambing ang isang quotation sa dokumentong iyon, tanungin kung paano nauugnay ang mga setting na iyon sa nakasaad na response time at repeatability. Huwag ipagpalagay na ang isang na-filter na resulta ng laboratoryo ay kumakatawan sa pinakamabilis na operating mode.

Para sa paghahambing ng pagkuha, i-freeze ang isang recipe ng pagsukat. Tukuyin ang target, distansya ng sanggunian, oryentasyon ng ibabaw, oras ng pag-stabilize, tagal ng pagkuha, interface ng output, at pag-filter. Humingi ng katumbas na pagsubok mula sa bawat kandidatong supplier. Kung saan imposible ang mga katumbas na setting, ilarawan nang malinaw ang pagkakaiba sa halip na i-ranggo ang mga hubad na numero.

Unawain kung bakit binabago ng mga totoong ibabaw ang resulta

Maraming short-range laser displacement sensors ang gumagamit ng optical triangulation. Inoobserbahan ng receiver ang posisyon ng repleksyon ng liwanag, at inima-map ng processing system ang posisyong iyon sa distansya. Samakatuwid, maaaring makaimpluwensya ang mga kondisyon ng ibabaw sa pagsukat kahit na nananatiling pare-pareho ang pisikal na distansya. Dapat suriin ang epekto para sa partikular na disenyo at bahagi ng optika.

Ang isang makintab na ibabaw ay maaaring magdirekta ng kapaki-pakinabang na liwanag palayo sa receiver o lumikha ng malalakas na repleksyon ng specular. Ang madilim na mga ibabaw ay maaaring magbigay ng mas kaunting ibinalik na liwanag. Maaaring baguhin ng tekstura ang naobserbahang signal habang ang iba't ibang katangian ng ibabaw ay dumadaan sa spot. Sa isang gilid, ang naiilawang lugar ay maaaring may kasamang dalawang taas. Ang isang mas malaking spot ay maaaring mag-average ng lokal na detalye na nilayon ng inspeksyon.

Ikabit ang sensor upang ang mga landas na inilalabas at natatanggap ay manatiling walang harang sa buong inaasahang paggalaw. Suriin ang mga bulsa, nakataas na mga gilid, at mga fixture para sa optical shadowing. Gamitin ang aktwal na hanay ng mga surface finish, kabilang ang katanggap-tanggap na pagkakaiba-iba ng produksyon. Ang pagsubok sa isang kaakit-akit na sample ay maaaring magtago ng failure mode na lumilitaw pagkatapos dumating ang susunod na batch ng materyal.

Gumawa ng badyet para sa mga error sa inspeksyon bago pumili ng hardware

Magsimula sa drawing tolerance at ang bunga ng maling pagtanggap o maling pagtanggi. Magtatag ng pinahihintulutang kontribusyon sa pagsukat kasama ang quality team. Ang isang nakapirming measurement-to-tolerance ratio ay maaaring maging isang kapaki-pakinabang na internal target, ngunit walang iisang ratio ang awtomatikong nagpapatunay ng pagiging angkop para sa bawat produkto o antas ng panganib.

Isaalang-alang ang isang naglalarawang tolerance sa taas mula 9.80 hanggang 10.20 mm, na may kabuuang lapad na 0.40 mm. Ipagpalagay na ang isang pilot test ay nagbunga ng isang stationary standard deviation na 0.006 mm. Anim na standard deviation ang sumasaklaw sa 0.036 mm, o 9% ng lapad ng tolerance. Ito ay isang screening calculation para sa stationary test na iyon, hindi isang kumpletong resulta ng gauge acceptance. Hindi kasama rito ang repositioning, bias, temperatura, at mga pangmatagalang epekto.

Kung ang mga kontribusyon ng independiyenteng pamantayan ng kawalang-katiyakan ay tinatantya bilang 6 μm para sa ingay ng sensor, 8 μm para sa muling pagpoposisyon, at 4 μm para sa pagkuha, ang kanilang root-sum-square ay humigit-kumulang 10.8 μm. Ang kalkulasyong ito ay balido lamang kapag ang mga pagtatantya ay nagbabahagi ng isang pare-parehong batayan at ang palagay ng kalayaan ay makatwiran. Ang mga magkakaugnay na epekto, hindi naitama na bias, at tinukoy na pinakamataas na limitasyon ay nangangailangan ng magkahiwalay na pagtrato; hindi dapat ipasok ang mga ito nang walang taros sa parehong pormula.

Samakatuwid, ang isang kapaki-pakinabang na talakayan tungkol sa pagbili ay nagsisimula sa badyet ng aplikasyon. Kung ang fixture ang nangingibabaw sa pagkakaiba-iba, ang isang mas mahal na sensor ay maaaring magdagdag ng kaunting halaga. Kung ang mga epekto sa ibabaw ang nangingibabaw, ang pagbabago ng geometry o teknolohiya ng sensing ay maaaring mas mahalaga kaysa sa isang mas maliit na halaga ng pag-uulit ng katalogo.

Magkahiwalay na patunayan ang mga sukat na hindi gumagalaw at gumagalaw

Gumamit ng isang traceable reference o isang naaangkop na calibrated displacement stage upang suriin ang mga kilalang posisyon. Ang reference uncertainty ay dapat na angkop para sa desisyong ginagawa. Itala ang mga kondisyon ng paligid at hayaang mag-stabilize ang sistema ayon sa tagagawa. Panatilihin ang mga setting at raw data upang maulit ang resulta pagkatapos ng pag-install.

1. Sukatin ang isang nakapirming reperensya nang paulit-ulit upang matukoy ang panandaliang ingay.

2. Tanggalin at palitan ang parehong bahagi upang malantad ang pagkarga at pagkakaiba-iba ng kabit.

3. Sukatin ang mga representatibong bahagi sa kinakailangang saklaw at mga pagtatapos ng ibabaw.

4. Ulitin sa bilis ng produksyon gamit ang totoong gatilyo at landas ng pagkuha.

5. Ulitin pagkatapos ng warm-up, pagbabago ng temperatura, at normal na paglilinis o pagpapanatili.

6. Ihambing ang mga resulta sa mga napagkasunduang limitasyon at imbestigahan ang mga pagkabigo bago ilabas.

Ang mga dami na ito ay mga iminungkahing panimulang punto, hindi mga karaniwang laki ng sample. Dagdagan ang saklaw ayon sa pagkakaiba-iba ng proseso, mga kinakailangan sa kumpiyansa, at ang gastos ng isang maling desisyon. Ang isang maikling pagsubok ay maaaring matukoy ang isang problema nang hindi napapatunayan ang pangmatagalang pagiging maaasahan.

Pagbalanse ng pag-average laban sa bilis ng linya

Maaaring mabawasan ng pag-average ang random na ingay, ngunit maaari rin nitong maantala ang resulta at mapabilis ang isang katangiang dapat matukoy. Para sa mga independent random sample, ang standard deviation ng isang average ay bumababa kasabay ng square root ng bilang ng sample. Ang correlated noise, slow drift, at surface-dependent errors ay hindi kinakailangang sumunod sa pagpapabuting iyon.

Sa isang naglalarawang gumagalaw na inspeksyon, ang isang 5 mm na katangian na naglalakbay sa bilis na 0.5 m/s ay nananatili sa ilalim ng isang puntong lokasyon ng pagsukat nang humigit-kumulang 10 ms. Ang isang nominal na 40 ms na setting ng tugon ay mas mahaba kaysa sa panahong iyon ng obserbasyon. Ang katangian ay maaaring humina o mahahalo sa mga nakapalibot dito. Maaaring kailanganin ang mas mabilis na setting, na susundan ng isang panibagong pagsubok sa pag-uulit sa setting na iyon.

Isaalang-alang ang trigger delay, oras ng pag-scan ng controller, mga update sa komunikasyon, at anumang averaging na isinagawa sa PLC. Ang display ng sensor ay maaaring magmukhang matatag habang binabasa ng PLC ang luma o naiiba ang na-filter na data. Suriin ang halagang aktwal na ginamit para sa desisyon sa produksyon.

Suriin ang mga panuntunan sa pagsasama at pagtanggap

Para sa isang analog interface, beripikahin ang scaling, input resolution, grounding, cable routing, at ang loop load. Para sa isang digital interface, beripikahin ang mga unit, interpretasyon ng register, update rate, invalid-data handling, at mga timeout. Walang interface na awtomatikong ginagarantiyahan ang mas mahusay na resulta ng inspeksyon; ang kumpletong implementasyon ang nagtatakda ng performance.

Magtakda ng isang tahasang tuntunin sa pagpapasya malapit sa mga limitasyon ng ispesipikasyon. Ang isang sukat na malapit sa isang limitasyon ay maaaring mangailangan ng guard band, muling pagsukat, o isang alternatibong paraan ng inspeksyon, depende sa kawalan ng katiyakan at napagkasunduang patakaran sa kalidad. Huwag itago ang mga hindi tiyak na klasipikasyon sa pamamagitan ng paulit-ulit na pagsukat hanggang sa lumitaw ang isang pasadong halaga.

Maaaring gamitin ng Procurement ang pamilya ng produkto ng Lanbao PDA bilang kandidato para sa pagsusuri, habang hinihiling ang eksaktong datasheet ng modelo, configuration ng output, at pagsubok ng aplikasyon. [2] Bitawan lamang ang sensor kasama ang naitalang baseline, mounting drawing, settings file, proseso ng pag-verify, at mga tagubilin sa pagpapalit. Ang mga rekord na iyon ay nakakatulong na mapanatili ang napatunayang pagganap pagkatapos ng pagpapanatili.

Mga Sanggunian

[1] Datasheet at mga kondisyon ng pagsubok ng seryeng Lanbao PDA CR50 na may mataas na katumpakan

[2] Pamilya ng produkto at pinagmulan ng larawan ng Lanbao PDA laser displacement sensor

Mga Madalas Itanong

Ang pag-uulit ba ay pareho sa katumpakan

Hindi. Ang repeatability ay naglalarawan ng pagkakatugma sa pagitan ng mga paulit-ulit na pagbasa sa ilalim ng mga tinukoy na kondisyon. Ang katumpakan ay tumutukoy sa pagkakatugma sa dami na sinusukat. Ang isang matatag na offset ay maaaring magdulot ng mahusay na repeatability habang ang iniulat na distansya ay nananatiling hindi angkop para sa isang ganap na desisyon sa inspeksyon.

Anong repeatability ang sapat na mabuti para sa aking inspeksyon

Pumili ng isang kinakailangan mula sa tolerance ng bahagi, badyet ng kawalang-katiyakan, at mga bunga ng maling klasipikasyon. Patunayan ang kumpletong naka-install na sistema. Ang isang halaga ng katalogo lamang ay hindi maaaring magtatag ng naaangkop na limitasyon sa pagtanggap para sa isang hindi kilalang proseso.

Maaari bang siyasatin ng isang sensor na may resolusyong 10 micrometre ang isang 10 micrometre tolerance?

Hindi sinusuportahan ng resolusyon lamang ang konklusyong iyan. Ang ingay, bias, linearity, thermal effects, fixture variation, at acquisition behavior ay maaaring mas malaki kaysa sa ipinapakitang increment. Ang tolerance ay nangangailangan ng angkop na pag-aaral ng kakayahan sa pagsukat.

Bakit hindi gaanong matatag ang mga pagbasa sa makintab na metal

Maaaring baguhin ng mga replektibong ibabaw ang liwanag na umaabot sa receiver habang nagbabago ang anggulo o posisyon. Subukan ang aktwal na tapusin at heometriya. Maaaring kailanganin ang ibang anggulo ng pagkakabit, optical arrangement, o teknolohiya ng sensor pagkatapos ng pagsusuri ng aplikasyon.

Ang pag-average ba ay palaging nagpapabuti sa kakayahang maulit

Kadalasang binabawasan ng pag-average ang walang kaugnayang random na pagkakaiba-iba. Hindi nito maaasahang inaalis ang drift o systematic error, at maaari nitong bawasan ang visibility ng mga maiikling feature sa mga gumagalaw na bahagi. Paghambingin ang mga setting sa kinakailangang bilis ng produksyon.

Gaano kadalas dapat suriin ang sensor

Itakda ang agwat mula sa panganib sa proseso, naobserbahang pag-agos, kapaligiran, at kasaysayan ng pagpapanatili. Suriin pagkatapos ng mga pagbabago sa pag-install o pagpapalit ng sensor. Ang isang pagsusuri sa sanggunian sa mga tinukoy na agwat ng produksyon ay nakakatulong na ipakita ang mga pagbabago bago pa man ito makaapekto sa isang malaking batch.

Ano ang dapat ipadala sa isang supplier para sa isang kapaki-pakinabang na pagsubok

Magbigay ng mga representatibong bahagi, mga drowing, mga tolerance, pagkakaiba-iba ng ibabaw, mga limitasyon sa pag-mount, bilis ng linya, mga detalye ng controller, at ang ninanais na tuntunin sa pagpapasya. Humingi ng mga hilaw na sukat at kumpletong mga setting upang ang pagsubok ay maisagawa muli sa makina.