CCD-Drahtdurchmessersensoren treiben die Modernisierung von Halbleiterwaferprozessen voran

Mit dem Eintritt der Halbleiterfertigung in das Nanometerzeitalter bestimmen Wafer als zentrale Träger von Chips direkt Ausbeute und Kosten durch ihre Positionsgenauigkeit und Winkelkonstanz während der Verarbeitung und des Transports.

 

Während des Schneidens, Schleifens, Beschichtens, Vereinzelns, Ausrichtens vor der Verpackung und anderer Prozesse sind Wafer aufgrund von mechanischen Vibrationen, Übertragungsfehlern und Werkzeugabweichungen anfällig für minimale Versätze, Winkelabweichungen und Bahnverzerrungen. Selbst Abweichungen im Mikrometerbereich können zu Massenproblemen wie Absplitterungen beim Schneiden, Überlagerungsversätzen und Verbindungsfehlern führen und die Produktionskapazität und die Ausbeute erheblich beeinträchtigen. Herkömmliche mechanische Positionierungs- und manuelle Ausrichtungsmethoden weisen eine geringe Genauigkeit und langsame Reaktionszeiten auf und sind daher für die Hochgeschwindigkeits-Massenproduktion und die Anforderungen fortschrittlicher Prozesse ungeeignet.

 

Vor diesem Hintergrund hat sich der Lanbao CCD-Sensor zur Drahtdurchmesserkorrektur dank seiner berührungslosen, hochpräzisen und dynamischen Echtzeitkorrektur zu einem zentralen Hilfsmittel für die präzise Ausrichtung und Abweichungskorrektur in der Halbleiterwafer-Fertigung entwickelt. Er gewährleistet zuverlässige Ergebnisse für eine automatisierte Präzisionsproduktion.

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Im Betrieb erzeugt der Sender einen gleichmäßigen, parallelen Lichtvorhang, der die Waferkante abdeckt. Die CCD-Matrix des Empfängers erfasst die abgeschirmte Hell-Dunkel-Grenze, gibt Wafer-Offsetwerte in Echtzeit aus, meldet diese an das Produktionslinien-Steuerungssystem zurück und steuert die UVW-Plattform zur dynamischen Korrektur im Millisekundenbereich. So entsteht ein geschlossener Regelkreis aus Messung, Berechnung und Korrektur. Der gesamte Prozess nutzt ausschließlich datenbasierte Positionserfassung ohne Fotografie, Bildgebung oder Fehlererkennung. Er bietet schnellere Reaktionszeiten, höhere Stabilität und geringere Kosten und eignet sich daher ideal für die Halbleiter-Massenproduktion.

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Der Lanbao CCD-Sensor zur Drahtdurchmesserkorrektur wurde gezielt optimiert und erreicht eine extrem hohe Erfassungsgenauigkeit von ±1 μm. Dadurch lassen sich selbst kleinste Verschiebungen und Winkelabweichungen an den Rändern von 8/12-Zoll-Wafern präzise erfassen. Ausgestattet mit einem dynamischen Temperaturdriftkompensationsalgorithmus, weist er einen Temperaturkoeffizienten von nur ±8 μm/℃ auf und ist somit unempfindlich gegenüber Temperaturschwankungen in der Werkstatt, leichten Vibrationen und Staubeinwirkungen. Er liefert auch im Dauerbetrieb stabile Daten ohne Drift oder Kalibrierungsfehler. Die Unterstützung einer unterbrechungsfreien, dynamischen Hochgeschwindigkeitskorrektur rund um die Uhr gewährleistet eine Ausrichtungsgenauigkeit im Nanometerbereich und optimiert gleichzeitig die Effizienz und Präzision der Produktionslinie.

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Mit jahrelanger Erfahrung in der industriellen Sensortechnik bietet der Lanbao CCD-Sensor zur Drahtdurchmesserkorrektur drei wesentliche Vorteile bei der Waferkorrektur und erfüllt präzise die strengen Anforderungen der Halbleiter-Massenproduktion:

• Hochpräzise dynamische Korrektur:Erfasst Drahtdurchmesser und -position in Echtzeit und korrigiert Abweichungen innerhalb von Millisekunden. Dadurch entfällt die Verzögerung statischer Ausrichtung, und das System eignet sich für automatisierte Hochgeschwindigkeits-Produktionslinien.

• Hohe Stabilität und störungsfreier Betrieb:Ausgestattet mit einem Blendschutzfiltermodul, arbeitet es stabil bei einer Beleuchtungsstärke von 3000 Lux und eignet sich somit für die hohen Reinheitsanforderungen und die stark störanfälligen Arbeitsbedingungen in Halbleiterwerkstätten.

• Berührungslose und beschädigungsfreie Anpassung:Das Verfahren nutzt eine berührungslose Messung mit optischem Lichtvorhang, wodurch der Kontakt mit der Waferoberfläche und -kante vermieden wird. So werden Kratzer und Beschädigungen durch Extrusion bei ultradünnen Wafern (≤ 200 μm) vollständig verhindert und die Waferintegrität sichergestellt.

 

Der Lanbao CCD-Sensor zur Drahtdurchmesserkorrektur findet derzeit breite Anwendung in Schlüsselprozessen wie der Wafer-Vorausrichtung, der Korrektur der Drahtübertragung in Montagelinien, der Ausrichtung vor dem Vereinzeln und der Positionierung vor der Verpackung. Er ermöglicht die Echtzeit-Überwachung von Positionsabweichungen, die Datenrückmeldung und die dynamische Korrekturregelung im geschlossenen Regelkreis. Dadurch wird sichergestellt, dass die Wafer während des gesamten Prozesses die vorgegebenen Bearbeitungspositionen und Übertragungsbahnen beibehalten. Dies löst grundlegend Probleme in der Massenproduktion wie fehlerhafte Produkte, Materialverluste und Nacharbeiten aufgrund von Ausrichtungsabweichungen. Messdaten zeigen, dass sich mit der Lanbao CCD-Korrekturlösung die Kosten für die manuelle Kalibrierung um 80 % reduzieren und die Anlagenstillstandszeiten deutlich verringern. Unternehmen können so ihre doppelten Ziele erreichen: Kostensenkung, Effizienzsteigerung und Qualitätsverbesserung.

 

PDM-Laser-CCD-Sensor zur Drahtdurchmessermessung

PDM

Exquisites Design, leichtes Aluminiumgehäuse, einfache Montage und Demontage

Komfortables Bedienfeld mit intuitiver Digitalanzeige

Kompakter Sensor und Controller sparen Installationsplatz

Großer Messbereich mit hoher Präzision, mehrere Messmodi verfügbar

Umfangreiche Funktionen, einfache Konfiguration, breites Anwendungsspektrum

PDM 2

 

 

PDT-Fotoelektrischer Entfernungssensor

PDT

Kompatibel mit 1:2-Verbindungen, Kaskadierung mehrerer Controller und EtherCAT-Netzwerken
Breiter Messbereich, hochpräzise Messung mit mehreren verfügbaren Modi
Exquisites Design, robustes und leichtes Aluminiumgehäuse
Komfortables Bedienfeld mit dualer Digitalanzeige
Optischer Achsenausrichtungsindikator für einfache Installation und Ausrichtung

 PDT 2

 

Als Hightech-Unternehmen mit Schwerpunkt auf industrieller Sensorik konzentriert sich Lanbao Sensing auf die Lösung von Herausforderungen in der intelligenten Halbleiterfertigung und die Entwicklung von Korrektur- und Entfernungsmesssystemen, die speziell für die High-End-Fertigung entwickelt wurden. Der CCD-Sensor zur Drahtdurchmesserkorrektur ist exklusiv für die Wafer-Präzisionsbearbeitung konzipiert und erfüllt die hohen Anforderungen der Halbleiterindustrie an Präzision, Stabilität und Zuverlässigkeit in der Massenproduktion. Dank der Unterstützung des EtherCAT-Industriebusses lässt er sich nahtlos in verschiedene automatisierte Wafer-Produktionslinien integrieren. Lanbao Sensing wird seine Präsenz im Halbleitersektor weiter ausbauen, die Sensortechnologie und Produktleistung kontinuierlich optimieren und mit robusten industriellen Sensorlösungen die großflächige, präzise und effiziente Modernisierung der chinesischen Halbleiterindustrie unterstützen.

 


Veröffentlichungsdatum: 10. Juni 2026