No cenário de rápida evolução da produção industrial, a planicidade das superfícies dos produtos é um indicador crucial de qualidade. A detecção de planicidade é amplamente utilizada em diversos setores, como o automotivo, o aeroespacial e o eletrônico. Exemplos incluem a inspeção de planicidade de baterias ou carcaças de celulares na indústria automobilística e a inspeção de planicidade de painéis de LCD na indústria de semicondutores.
No entanto, os métodos tradicionais de detecção de planicidade apresentam problemas como baixa eficiência e pouca precisão. Em contrapartida, os sensores LVDT (Transformador Diferencial Variável Linear), com suas vantagens de alta precisão, alta confiabilidade e medição sem atrito (por exemplo: os LVDTs utilizam uma sonda para entrar em contato com a superfície do objeto, deslocando o núcleo para obter uma medição sem atrito e de alta precisão), são hoje amplamente utilizados na detecção de planicidade de objetos modernos.
Princípio de funcionamento:
Medição sem atrito:Normalmente não há contato físico entre o núcleo móvel e a estrutura da bobina, o que significa que o LVDT é um dispositivo sem atrito. Isso permite seu uso em medições críticas que não toleram cargas por atrito.
Vida mecânica ilimitadaComo normalmente não há contato entre o núcleo e a estrutura da bobina do LVDT, nenhuma peça pode se atritar ou se desgastar, conferindo aos LVDTs uma vida útil mecânica praticamente ilimitada. Isso é especialmente importante em aplicações que exigem alta confiabilidade.
Resolução InfinitaOs LVDTs conseguem medir mudanças infinitesimalmente pequenas na posição do núcleo porque operam com base em princípios de acoplamento eletromagnético em uma estrutura sem atrito. A única limitação na resolução é o ruído no condicionador de sinal e a resolução do visor de saída.
Repetibilidade do Ponto Nulo:A localização do ponto nulo intrínseco de um LVDT é extremamente estável e repetível, mesmo em sua ampla faixa de temperatura de operação. Isso faz com que os LVDTs tenham um bom desempenho como sensores de posição nula em sistemas de controle de malha fechada.
Rejeição de eixo cruzado:Os LVDTs são muito sensíveis ao movimento axial do núcleo e relativamente insensíveis ao movimento radial. Isso permite que os LVDTs sejam usados para medir núcleos que não se movem em linha reta precisa.
Resposta dinâmica rápida:A ausência de atrito durante a operação normal permite que um LVDT responda muito rapidamente às mudanças na posição do núcleo. A resposta dinâmica de um sensor LVDT é limitada apenas pelos efeitos inerciais da pequena massa do núcleo.
Saída absoluta:A saída do LVDT é um sinal analógico diretamente relacionado à posição. Se ocorrer uma queda de energia, a medição pode ser retomada sem recalibração (a energia precisa ser religada para obter o valor de deslocamento atual após a queda de energia).
- Detecção de planicidade da superfície da peçaAo colocar uma sonda LVDT em contato com a superfície de uma peça de trabalho, é possível medir as variações de altura na superfície, avaliando assim sua planicidade.
- Detecção de planicidade de chapas metálicasDurante a produção de chapas metálicas, uma matriz de LVDTs, combinada com um mecanismo de digitalização automatizado, permite o mapeamento completo da planicidade da superfície de chapas de grandes dimensões.
- Detecção de planicidade do wafer:Na indústria de semicondutores, a planicidade dos wafers tem um impacto significativo no desempenho dos chips. Os LVDTs podem ser usados para medir com precisão a planicidade das superfícies dos wafers. (Nota: Na detecção da planicidade do wafer, o LVDT precisa ser equipado com sondas leves e um design de baixa força de contato, tornando-o adequado para cenários em que danos à superfície não são permitidos.)
- Repetibilidade em nível micrométrico
- Diversas opções disponíveis de 5 a 20 mm.
- Opções de saída abrangentes, incluindo sinal digital, analógico e 485.
- Pressão de sensor de apenas 3N, capaz de detecção não abrasiva em superfícies de metal e vidro.
- Amplas dimensões externas para atender a diversos espaços de aplicação.
- Guia de seleção
| Tipo | Nome da peça | Modelo | Alcance | Linearidade | Repetibilidade | Saída | Grau de proteção |
| Tipo de sonda combinada | Amplificador | LVA-ESJBI4D1M | / | / | / | Corrente de 4-20mA, três saídas digitais. | IP40 |
| Sonda de detecção | LVR-VM15R01 | 0-15 mm | ±0,2%FS (25℃) | 8 μm (25 °C) | / | IP65 | |
| LVR-VM10R01 | 0-10 mm | ||||||
| LVR-VM5R01 | 0-5 mm | ||||||
| Tipo integrado | Sonda de detecção integrada | LVR-VM20R01 | 0-20mm | ±0,25%FS (25℃) | 8 μm (25 °C) | RS485 | |
| LVR-VM15R01 | 0-15 mm | ||||||
| LVR-VM10R01 | 0-10 mm | ||||||
| LVR-VM5R01 | 0-5 mm | ||||||
| LVR-SVM10DR01 | 0-10 mm |
Data da publicação: 11 de fevereiro de 2025