Sensores de diâmetro de fio CCD impulsionam a modernização dos processos de fabricação de wafers semicondutores.

Com a entrada da fabricação de semicondutores na era nanométrica, os wafers, como componentes principais dos chips, determinam diretamente o rendimento e o custo por meio de sua precisão posicional e consistência angular durante o processamento e o transporte.

 

Durante os processos de fatiamento, retificação, revestimento, corte, alinhamento de pré-embalagem e outros, os wafers estão sujeitos a pequenos desalinhamentos, inclinações angulares e desvios de trajetória devido à vibração mecânica, erros de transmissão e desvios das ferramentas. Mesmo desvios em nível micrométrico podem levar a problemas em larga escala, como lascamento durante o corte, desalinhamento da camada de sobreposição e falha na colagem, restringindo severamente a capacidade de produção e o aumento do rendimento. Os métodos tradicionais de posicionamento mecânico e alinhamento manual apresentam baixa precisão e resposta lenta, não se adaptando à produção em massa de alta velocidade e não atendendo aos requisitos de processos avançados.

 

Nesse contexto, o sensor de correção de diâmetro de fio CCD da Lanbao tornou-se um dispositivo essencial para o alinhamento preciso e a correção de desvios em processos de fabricação de wafers semicondutores, graças às suas principais capacidades de correção sem contato, de alta precisão e dinâmica em tempo real. Ele oferece garantias confiáveis ​​para a produção automatizada de precisão.

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Durante a operação, o transmissor gera uma cortina de luz paralela e uniforme que cobre a borda do wafer. A matriz CCD do receptor captura a fronteira entre a área clara e a escura bloqueada, emite os valores de deslocamento do wafer em tempo real, envia-os de volta para o sistema de controle da linha de produção e aciona a plataforma UVW para realizar a correção dinâmica em nível de milissegundos, formando um controle em circuito fechado de medição – cálculo – correção. Todo o processo realiza apenas a detecção de posição baseada em dados, sem fotografia, imagem ou detecção de defeitos. Isso proporciona uma resposta mais rápida, maior estabilidade e menor custo, adequando-se perfeitamente aos cenários de produção em massa de semicondutores.

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O sensor de correção de diâmetro de fio CCD da Lanbao passou por otimização direcionada, alcançando uma precisão de coleta ultra-alta de ±1 μm, capaz de capturar com precisão pequenos deslocamentos e desvios angulares nas bordas de wafers de 8/12 polegadas. Equipado com um algoritmo de compensação dinâmica de deriva térmica, apresenta um coeficiente de temperatura tão baixo quanto ±8 μm/℃, resistindo eficazmente a flutuações de temperatura na fábrica, vibrações mínimas e interferência de poeira. Mantém dados estáveis, sem deriva ou erros de calibração, durante operação contínua de longo prazo. Suportando correção dinâmica ininterrupta de alta velocidade 24 horas por dia, 7 dias por semana, garante precisão de alinhamento em nível nanométrico, ao mesmo tempo que melhora significativamente a eficiência do fluxo da linha de produção, equilibrando precisão e eficiência.

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Com anos de experiência acumulada em tecnologia de sensores industriais, o sensor de correção de diâmetro de fio CCD da Lanbao oferece três vantagens principais na correção de wafers, atendendo com precisão às rigorosas exigências da produção em massa de semicondutores:

• Correção dinâmica de alta precisão:Coleta dados de diâmetro e posição do fio da borda em tempo real, com resposta em nível de milissegundos para correção de desvios. Elimina a defasagem do alinhamento estático e se adapta a linhas de produção automatizadas de alta velocidade.

• Operação altamente estável e livre de interferências:Equipado com um módulo de filtro antirreflexo, funciona de forma estável sob iluminação de 3000 lux, adaptando-se às condições de trabalho de alta limpeza e alta interferência das oficinas de semicondutores.

• Adaptação sem contato e sem danos:Adota a medição sem contato por cortina de luz óptica, evitando o contato com a superfície e a borda do wafer. Isso previne completamente arranhões e danos por extrusão em wafers ultrafinos (≤200 μm), garantindo a integridade do wafer.

 

Atualmente, o sensor de correção de diâmetro de fio CCD da Lanbao é amplamente utilizado em processos-chave, como pré-alinhamento de wafers, correção de transmissão em linhas de montagem, alinhamento pré-corte e posicionamento pré-embalagem. Ele realiza monitoramento em tempo real do desvio de posição, feedback de dados e controle dinâmico em malha fechada, garantindo que os wafers mantenham posições de processamento e trajetórias de transmissão padrão durante todo o processo. Isso resolve fundamentalmente problemas de produção em massa, como produtos defeituosos, perdas de material e retrabalho causados ​​por desalinhamentos. Dados de medição mostram que, com a solução de correção CCD da Lanbao, os custos de calibração manual são reduzidos em 80% e o tempo de inatividade dos equipamentos é significativamente reduzido, ajudando as empresas a atingirem seus objetivos de redução de custos, aumento da eficiência e aprimoramento da qualidade.

 

Sensor de medição de diâmetro de fio CCD a laser PDM

PDM

Design requintado, estrutura leve em alumínio, fácil de instalar e remover.

Painel de operação prático com visor digital intuitivo.

Sensor e controlador compactos, economizando espaço de instalação.

Ampla faixa de medição com alta precisão, diversos modos de medição disponíveis.

Funções avançadas, configuração fácil, ampla gama de aplicações

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Sensor de alcance fotoelétrico PDT

PDT

Compatível com conexão um-para-dois, cascata de múltiplos controladores e redes EtherCAT.
Ampla gama de medições de alta precisão com múltiplos modos disponíveis.
Design requintado, estrutura robusta e leve em alumínio.
Painel de operação prático com visor digital duplo
Indicador óptico de alinhamento do eixo para fácil instalação e alinhamento.

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Como uma empresa de alta tecnologia profundamente envolvida em sensoriamento industrial, a Lanbao Sensing concentra-se em solucionar os principais desafios da fabricação inteligente de semicondutores e em desenvolver dispositivos de correção e medição de distância personalizados para a manufatura de ponta. Seu sensor CCD para correção do diâmetro do fio é personalizado exclusivamente para cenários de processamento de precisão de wafers, atendendo precisamente aos padrões de produção em massa de alta precisão, alta estabilidade e alta confiabilidade da indústria de semicondutores. Compatível com o barramento industrial EtherCAT, ele pode se conectar perfeitamente a diversas linhas de produção automatizadas de wafers. No futuro, a Lanbao Sensing continuará a consolidar sua presença no setor de semicondutores, otimizando iterativamente a tecnologia de correção de sensoriamento e o desempenho do produto, e impulsionando a modernização em larga escala, precisa e eficiente da indústria de semicondutores da China com recursos robustos de sensoriamento industrial.

 


Data da publicação: 10 de junho de 2026